CL (CAS Latency, 列地址選通潛伏期) 是內存時序參數中的首要指標,表示內存控制器發出列地址選通信號 (CAS#) 到內存模組輸出第一個有效數據之間的時鐘週期數。
| 參數 | 全稱 | 含義 | 典型值範圍 | |
|---|---|---|---|---|
| CL (tCL) | CAS Latency | 列地址選通潛伏期:列地址有效 → 數據輸出 | 14-40 cycles | |
| tRCD | RAS to CAS Delay | 行地址選通到列地址選通延遲:激活行 → 發出列命令 | 14-22 cycles | |
| tRP | RAS Precharge | 行地址預充電時間:關閉行 → 可再次激活 | 14-22 cycles | |
| tRAS | Active to Precharge Delay | 行激活到預充電最小間隔:激活行 → 允許預充電 | 28-60 cycles |
| 內存規格 | 頻率 (MT/s) | CL | 真實延遲 (ns) | 性能定位 |
|---|---|---|---|---|
| DDR4-3200 CL16 | 3200 | 16 | 10.0 ns | 主流甜點 |
| DDR4-3600 CL18 | 3600 | 18 | 10.0 ns | 高頻低時序平衡 |
| DDR5-4800 CL40 | 4800 | 40 | 16.7 ns | DDR5早期產品 |
| DDR5-6000 CL30 | 6000 | 30 | 10.0 ns | DDR5甜點 (Intel 13/14代/AMD 7000系) |
| DDR5-7200 CL34 | 7200 | 34 | 9.4 ns | 高端超頻/專業平台 |
結論:同頻率下 CL 越低越好;跨頻率比較必須換算真實延遲 (ns),不能單看 CL 數字。
CL 值是內存「反應速度」的量化指標。但記住:容量是地基,頻率是樓層,時序是電梯速度。地基不牢 (容量不足) 蓋再高樓也會崩;電梯再快 (CL極低),樓層太矮 (頻率太低) 也上不了高樓。三者平衡,才是性能最大化。