SSD 壽命核心指標：P/E 循環次數

SSD 壽命以 P/E Cycles (Program/Erase Cycles) 衡量，即完整抹寫一次的次數。不同製程閃存壽命不同：

• 34nm SLC/MLC：約 5,000~10,000 次 P/E
• 25nm MLC：約 3,000~5,000 次 P/E
• 19nm/16nm TLC：約 1,000~3,000 次 P/E
• QLC：約 100~1,000 次 P/E

壽命計算公式

理論壽命 (TBW) = 容量 (GB) × P/E 次數 ÷ 1024

範例：120GB TLC SSD（3,000 P/E）

TBW = 120 × 3,000 ÷ 1,024 ≈ 351 TBW (總可寫入位元組)

實際使用情境估算

關鍵技術延長壽命

• 磨損平衡：控制器平均分散寫入到各區塊，避免局部過度磨損。
• 超額佈建：保留 7~28% 空間供控制器調度，用戶不可見但關鍵。
• TRIM 指令：OS 通知 SSD 哪些區塊已刪除，提前擦除準備寫入，降低寫入放大。
• SLC 快取：部份 TLC/QLC 將部分容量模擬 SLC 模式，大幅提升寫入效能與壽命。

結論與選購建議

1. 一般消費者完全無需擔心 SSD 壽命，正常使用 5-10 年遠超過電腦更換週期。
2. 選購重點應放在容量、價格、效能、保固年限，而非過度迷信 P/E 數字。
3. 大容量 SSD 因擁有更多區塊分散寫入，實際壽命遠超小容量同款。
4. 定期備份資料才是防止資料遺失的根本之道（任何儲存媒體都可能意外損壞）。